23/9 | OMECO alla Giornata AIM “Microscopia Elettronica applicata alla failure analysis”

Omeco sarà tra i relatori della Giornata di Studio Microscopia Elettronica applicata alle failure analysis in programma a Padova nella mattinata di venerdì 23 settembre 2022 nell’ambito del 39° Convegno Nazionale AIM-Associazione Italiana Metallurgia.

Obiettivo della Giornata di Studio quello di condividere e diffondere l’esperienza e la conoscenza delle applicazioni della tecnica SEM (Scanning Electron Microscope) in ambito metallurgico e in particolare alla failure analysis, per permettere agli operatori un utilizzo consapevole e ragionato del microscopio elettronico a scansione, uno strumento ormai molto diffuso e sempre più alla portata dei tecnici che si occupano di prove sui materiali, grazie alla vastità di applicazioni possibili e alle numerose informazioni che può offrire, sia di tipo morfologico che chimico.

L’intervento di Igor Giroletti di Omeco, in particolare, sarà dedicato ai Casi pratici di metallografia elettronica nella failure analysis

Per maggiori informazioni:
https://www.metallurgia-italiana.net/manifestazione.php?id=729&idc=1

 

Categories: Notizie